离子迁移测试仪-256通道 1250V

GEN3 Auto CAF2+离子迁移监测系统设备

有效监测离子迁移引致表面绝缘阻抗（SIR）变化及生成PCB内层阳极导电丝（CAF）

一、GEN3 CAF2（1250V）用途：

根据IPC标准中有明确要求，测试条款为IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance》。另外各大汽车零部件厂商如德尔福、博世、大陆等也有其专门的企业测试标准，主要测试内容就是将被测PCB板放置在85℃，85%RH的环境中处理1000小时，并在PCB板的孔与孔之间、线与线之间，或者是孔与内层之间、层与层之间施加一定的电压，然后持续监控其绝缘阻值变化，通过绝缘阻值变化了解其内部可能存在的一系列问题，而这种测试的缺陷就是板材内部出现了CAF现象。通过CAF测试可以基本了解具体是在哪个工艺环节可能产生了问题，从而进一步工艺改善。具体包括指导PCB设计人员选用合适的孔间距和线间距；指导PCB制造商选用适合的耐CAF材料组合；指导PCB制造商改进生产工艺；指导CCL供应商改进材料配方和加工工艺。

可根据各种标准要求条件和自定义条件进行SIR，CAF测试。

GEN3保持和IEC，ISO，IPC，BSI......等机构学会的长期合作，发展并订立相关SIR测试协定，应用于成品寿命可靠度，材料和制程特性研究。

GEN3 CAF2适用于：

IEC61189-5；ISO9455-17；IPC-TM-650；

BELLCORE GR78；DIN German & JIS Japanese STD；ANS/IPC-JSTD001；

IPS-JSTD-004；IPC-SM-840；IPC-CC-830&IEC 1086；IPC-9691；

ISO 19295:2016（E）Automotive.

二、GEN3 CAF2（1250V）测试原理：

三、GEN3 CAF2（1250V）规格：

四、关于CAF测试推荐配套：

根据CAF测试的标准中要求，需要将被测的-考试板放置在“80℃+85%RH"的环境中放置1000小时。故考虑到长时间的测试，对配套的“试验箱"提出了要求，推荐使用-艾斯佩克GPR系列高低温湿热试验箱。

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